首頁(yè)常見(jiàn)問(wèn)題 晶振負(fù)電阻的啟動(dòng)特性是什么?負(fù)電阻如何測(cè)量?
晶振負(fù)電阻的啟動(dòng)特性是什么?負(fù)電阻如何測(cè)量?
來(lái)源：http://sanctuaryinlakeelmo.com 作者：億金電子 2019年08月16
晶振負(fù)電阻的啟動(dòng)特性是什么?負(fù)電阻如何測(cè)量?
存在一種使用AGC(自動(dòng)增益控制)功能的IC僅在晶體振蕩器開(kāi)始振蕩時(shí)增加增益(下文中簡(jiǎn)稱(chēng)為啟動(dòng)).在使用這種IC的振蕩電路的情況下,晶振啟動(dòng)時(shí)的負(fù)電阻通常大于穩(wěn)態(tài)時(shí)的負(fù)電阻.因此,在使用上述類(lèi)型的IC的振蕩電路的情況下,不僅測(cè)量 和評(píng)估穩(wěn)態(tài)下的負(fù)電阻而且啟動(dòng)時(shí)的負(fù)電阻.
在這種情況下的判斷是基于“啟動(dòng)時(shí)的負(fù)電阻”是否確保了目標(biāo)值.(如果啟動(dòng)時(shí)的負(fù)電阻滿足目標(biāo),則振蕩啟動(dòng)有足夠的余量.即使穩(wěn)態(tài)下的負(fù)電阻不能確保目標(biāo)值,石英晶體單元的負(fù)載下的等效電阻也是如此,這是因?yàn)槿绻鄬?duì)于RL足夠大,則可以在啟動(dòng)之后保持振蕩.)
接下來(lái),將描述石英貼片晶振用于在啟動(dòng)時(shí)測(cè)量負(fù)電阻的方法.增益大的時(shí)間(負(fù)電阻開(kāi)始的時(shí)間)通常為幾毫秒或更短,因此難以用頻譜分析儀測(cè)量(參考:晶振負(fù)阻力測(cè)量).因此,使用示波器的測(cè)量方法用于區(qū)分振蕩和非振蕩.程序如下.
1、在將電源電壓施加到電路之前,將電阻器(Rx)與晶振晶體單元串聯(lián)插入.
2、對(duì)電路影響最小的電壓探針與振蕩單元接觸.
3、在電路上施加電源電壓,用示波器觀察啟動(dòng)狀態(tài)(參見(jiàn)下圖).
狀態(tài).jpg)
4、通過(guò)逐漸增加Rx并重復(fù)項(xiàng)目1至3,在啟動(dòng)時(shí)可以確認(rèn)振蕩的臨界點(diǎn)處搜索電阻值.
通過(guò)將石英晶體諧振器的負(fù)載等效電阻RL與電阻值相加而獲得的值是啟動(dòng)時(shí)的負(fù)電阻值.
存在一種使用AGC(自動(dòng)增益控制)功能的IC僅在晶體振蕩器開(kāi)始振蕩時(shí)增加增益(下文中簡(jiǎn)稱(chēng)為啟動(dòng)).在使用這種IC的振蕩電路的情況下,晶振啟動(dòng)時(shí)的負(fù)電阻通常大于穩(wěn)態(tài)時(shí)的負(fù)電阻.因此,在使用上述類(lèi)型的IC的振蕩電路的情況下,不僅測(cè)量 和評(píng)估穩(wěn)態(tài)下的負(fù)電阻而且啟動(dòng)時(shí)的負(fù)電阻.
在這種情況下的判斷是基于“啟動(dòng)時(shí)的負(fù)電阻”是否確保了目標(biāo)值.(如果啟動(dòng)時(shí)的負(fù)電阻滿足目標(biāo),則振蕩啟動(dòng)有足夠的余量.即使穩(wěn)態(tài)下的負(fù)電阻不能確保目標(biāo)值,石英晶體單元的負(fù)載下的等效電阻也是如此,這是因?yàn)槿绻鄬?duì)于RL足夠大,則可以在啟動(dòng)之后保持振蕩.)
接下來(lái),將描述石英貼片晶振用于在啟動(dòng)時(shí)測(cè)量負(fù)電阻的方法.增益大的時(shí)間(負(fù)電阻開(kāi)始的時(shí)間)通常為幾毫秒或更短,因此難以用頻譜分析儀測(cè)量(參考:晶振負(fù)阻力測(cè)量).因此,使用示波器的測(cè)量方法用于區(qū)分振蕩和非振蕩.程序如下.
1、在將電源電壓施加到電路之前,將電阻器(Rx)與晶振晶體單元串聯(lián)插入.
2、對(duì)電路影響最小的電壓探針與振蕩單元接觸.
3、在電路上施加電源電壓,用示波器觀察啟動(dòng)狀態(tài)(參見(jiàn)下圖).
通過(guò)將石英晶體諧振器的負(fù)載等效電阻RL與電阻值相加而獲得的值是啟動(dòng)時(shí)的負(fù)電阻值.
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此文關(guān)鍵字： 晶體單元晶振負(fù)阻啟動(dòng)特性
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